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Direct Inlet Probe (DIP) for 7200 GC/Q-TOF

Direct Inlet Probe (DIP) apre nuovi campi di applicazione al sistema Agilent 7200 GC / Q-TOF

Descrizione

Massa accurata e risoluzione di massa dell’analizzatore  Q-TOF consentono l’analisi di campioni non sono analizzabili n  GC neppure con una complessa preparazione del campione.
Oltre alle sorgenti ioniche EI e CI, anche FI (Field Ionisation), FD (Field Desorption), and LIFDI (Liquid Injection Field Desorption Ionisation) possono essere combinate con il sistema DIP per il 7200 GC / Q-TOF-MS. Queste tecniche di soft ionizzazione, forniscono picchi di ioni molecolari anche di analiti come complessi organometallici.

Caratteristiche principali:

  • sonda di ingresso diretta anche per campioni a bassa volatilità e solidi
  • inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente di ionizzazione (EI / CI)
  • vaporizzazione a temperatura programmata nella sorgente ionica per eliminare le interferenze della matrice
  • screening rapidi per controllo qualità, identificazione di analiti sconosciuti, analisi di sostanze in matrici complesse
  • la gamma di applicazioni comprende analisi alimentari e ambientali, metabolomica, analisi di sostanze naturali
  • L’analisi DIP senza la rimozione dell’interfaccia GC / Q-TOF, abilita la commutazione rapida tra GC / MS e modalità DIP / MS
  • Controllo del sistema tramite software DIP
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