DIP Direct Inlet Probe


Tecnologia: Direct MS Inlet Probe

SIM

Il sistema Direct Inlet Probe DIP di SIM è stato sviluppato per essere integrato ai detector di massa a singolo quadrupolo serie 5977, GC triplo quadrupolo serie 7000 e GC Q-TOF serie 7200 di Agilent.

Descrizione

Inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente ionica (EI / CI)

L’inlet probe consente di lavorare senza scollegare l’interfaccia GC/MS espandendo le potenzialità dell’intero sistema.

Caratteristiche principali:

  • due diversi probe per campioni liquidi e solidi
  • inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente ionica (EI / CI)
  • gestione completa tramite software DIP per tutti i parametri del probe
  • sonda di ingresso diretta per campioni a bassa volatilità e solidi
  • controller esterno per valvola e sistema di pompaggio e riscaldamento / raffreddamento
  • possibile automazione grazie all’autocampionatore CombiPal

 

Software DIP

Permette di gestire:

  • Lo start dell’analisi
  • L’introduzione del probe nella zona di alto vuoto, l’impostazione e il controllo delle rampe di temperatura di riscaldamento e raffreddamento del probe stesso.
  • Il controllo esatto della programmata di temperatura

Caratteristiche principali:

  • Acquisizione diretta di spettri di massa senza interventi sull’interfaccia GC/MS e senza alcuna operazione di vent.
  • Sistema con controllo esterno di valvole e pompe per l’introduzione del campione e riduzione al minimo dell’aspirazione di aria.
  • Sonda di introduzione di campioni liquidi e solidi alla zona della sorgente ad alto vuoto.
  • Riscaldamento della sonda programmabile con rampe di temperatura.
  • Acquisizione e elaborazione degli spettri in modalità EI o CI gestita dal software Agilent
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