Il sistema Direct Inlet Probe DIP di SIM è stato sviluppato per essere integrato ai detector di massa a singolo quadrupolo serie 5977, GC triplo quadrupolo serie 7000 e GC Q-TOF serie 7200 di Agilent.
Descrizione
Inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente ionica (EI / CI)
L’inlet probe consente di lavorare senza scollegare l’interfaccia GC/MS espandendo le potenzialità dell’intero sistema.
Caratteristiche principali:
- due diversi probe per campioni liquidi e solidi
- inserimento automatico del campione nell’alto vuoto della sorgente ionica (EI / CI)
- gestione completa tramite software DIP per tutti i parametri del probe
- sonda di ingresso diretta per campioni a bassa volatilità e solidi
- controller esterno per valvola e sistema di pompaggio e riscaldamento / raffreddamento
- possibile automazione grazie all’autocampionatore CombiPal
Software DIP
Permette di gestire:
- Lo start dell’analisi
- L’introduzione del probe nella zona di alto vuoto, l’impostazione e il controllo delle rampe di temperatura di riscaldamento e raffreddamento del probe stesso.
- Il controllo esatto della programmata di temperatura
Caratteristiche principali:
- Acquisizione diretta di spettri di massa senza interventi sull’interfaccia GC/MS e senza alcuna operazione di vent.
- Sistema con controllo esterno di valvole e pompe per l’introduzione del campione e riduzione al minimo dell’aspirazione di aria.
- Sonda di introduzione di campioni liquidi e solidi alla zona della sorgente ad alto vuoto.
- Riscaldamento della sonda programmabile con rampe di temperatura.
- Acquisizione e elaborazione degli spettri in modalità EI o CI gestita dal software Agilent
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